手機SIM卡耐高溫有助犯罪調查

【大紀元訊】科學家1月23日說，手機內的「用戶識別模組」卡(簡稱SIM卡)處於高達攝氏450度高溫仍不會毀損，甚至不怕更高的溫度，這項發現有助於調查恐怖攻擊與其他犯罪。

SIM卡是手機的心臟，能提供撥打或接獲電話的號碼與簡訊的紀錄。因此如果調查人員想要得到完整無缺的資料，這塊由塑膠與矽製成、大小如同指甲的晶片，對他們而言就如同金礦。

舉例來說：2004年3月11日造成191人死亡的馬德里列車爆炸案，調查人員從意圖引發兩枚未爆彈的嫌犯的手機裏取得SIM卡，調查工作因此獲得突破。

據中央社報導，倫敦大學學院的電子工程師瓊斯與肯揚進行一項不尋常的研究，讓SIM卡接受高溫的考驗。

研究人員利用酸液，小心剝除鎔鑄在每片晶片四周的保護性環氧樹脂，以暴露出其內部回路。接著將SIM卡放在高溫空氣中10分鐘，然後冷卻，接著研究人員將微型探測器連接至回路，透過介面裝置讀取晶片內容。

六張SIM卡加熱至攝氏180度左右，重新連接線路後仍可讀取，資料並未消失。五張SIM卡則加熱至攝氏450度，其中四張研究人員無法讀取，但第五張可以短暫讀取。第十二張卡加熱至攝氏650度，無法讀取。瓊斯與肯揚說，實驗證實SIM可以耐得住攝氏450度高溫，甚至還可以更高。

他們指出，他們採用重接線路的技術，對於想要研究受損SIM卡的鑑識專家而言，甚至還不是最後手段。他們可以採取其它高科技資料讀取方式，包括：研究晶片內部與處理器的連結、監控晶片運轉時的耗電，以及利用所謂的電子掃瞄式探針顯微鏡，讀取SIM卡內部回路主要「通路」的電荷量。◇